СПЕКТРОФОТОМЕТРЫ

СПЕКТРОФОТОМЕТРЫ

Акустооптические спектрофотометры серии AOS

Акустооптические спектрофотометры являются новыми приборами для быстрого измерения характеристик оптических покрытий.

Основные принципы работы
В состав акустооптического спектрофотометра входит широкоапертурный акустооптический монохроматор на основе электронно перестраиваемого акустооптического фильтра. В акустооптическом фильтре используется искусственный анизотропный кристалл, в котором фазовая дифракционная решетка формируется ультразвуковой волной распространяющейся внутри кристалла. Пространственный период этой решетки и, следовательно, длина волны пропускаемая акустооптическим фильтром определяются радиочастотным сигналом, подаваемым через пьезоэлектрический преобразователь. Электронная перестройка этой ультразвуковой дифракционной решетки обеспечивает быструю перестройку длины волны и высокую частоту (до 3 кГц) амплитудной модуляции.

Научно-исследовательский институт "Полюс" предлагает две базовые модели акустоооптических спектрофотометров. Спектрофотометр AOS-3S разработан для контроля оптических покрытий в вакуумных напылительных установках и тестирования готовых покрытий. Спектрофотометр AOS-3SL разработан для проверки оптических покрытий и может применяться в качестве универсального настольного лабораторного спектрофотометра.
Технические характеристики

Модель	AOS-3S	AOS-3SL
Спектральный диапазон	370 ... 1175 нм	370 ... 1175 нм
Спектральная ширина	0,3 нм (404,7 нм) 0,5 нм (632,8 нм) 0,8 нм (1014,0 нм)	0,3 нм (404,7 нм) 0,5 нм (632,8 нм) 0,8 нм (1014,0 нм)
Точность установки длины волны	±0,4 нм (370 ... 720 нм) ± 1 нм (720 ... 1175 нм)	±0,4 нм (370 ... 720 нм) ± 1 нм (720 ... 1175 нм)
Число спектральных точек	2 ... 201	2 ... 255
Минимальное время измерения в спектральной точке	5 мс	5 мс
Типичное время измерения в спектральной точке	40 мс	40 мс
Фотометрическая точность: отражение (R, %) пропускание (T, %)	±(0.2 + 0.02R)% (400 ... 720 нм) ±(0.05 + 0.02R)% (720 ... 1100 нм) ±(0.2 + 0.01T)% (400 ... 720 нм) ±(0.05 + 0.01T)% (720 ... 1100 нм)	±(0.1 + 0.02R)% (400 ... 720 нм) ±(0.01 + 0.02R)% (720 ... 1100 нм) ±(0.1 + 0.01T)% (400 ... 720 нм) ±(0.01 + 0.01T)% (720 ... 1100 нм)
Особенности	Контроль за напылением нечетвертьволновых многослойных покрытий Теоретический расчет напыляемого покрытия	Измерение пропускания при углах 0 ... 45° Спектральные измерения на различных поляризациях Слабое влияние (не более 0.01%) отражения назад от неполированных поверхностей измеряемого образца
Питание	220В, 50/60 Гц, 250ВА
Масса: оптический блок блок управления	2,5 кг 12 кг	10 кг 12 кг

Спектрометр управляется с помощью IBM совместимого компьютера с разьемом RS-232 C.

Россия, 117342, Москва, ул.Введенского, д.3
тел.: (095) 333 0389 факс: (095) 333 0256
e-mail: mail@polyus.msk.ru

http://www.polyus.msk.ru